在測(cè)試導(dǎo)熱系數(shù)方法中，前面我們介紹了穩(wěn)態(tài)法，這種方法雖然測(cè)試精度高，但存在測(cè)試耗時(shí)長(zhǎng)，量程低（小于20W/mK）等缺點(diǎn)，對(duì)樣品要求形狀高，不規(guī)則、各向異性和粉末等樣品也無法測(cè)試。
在測(cè)試導(dǎo)熱系數(shù)方法中，前面我們介紹了穩(wěn)態(tài)法，這種方法雖然測(cè)試精度高，但存在測(cè)試耗時(shí)長(zhǎng)，量程低（小于20W/mK）等缺點(diǎn)，對(duì)樣品要求形狀高，不規(guī)則、各向異性和粉末等樣品也無法測(cè)試。
在測(cè)試導(dǎo)熱系數(shù)方法中，前面我們介紹了穩(wěn)態(tài)法，這種方法雖然測(cè)試精度高，但存在測(cè)試耗時(shí)長(zhǎng)，量程低（小于20W/mK）等缺點(diǎn)，對(duì)樣品要求形狀高，不規(guī)則、各向異性和粉末等樣品也無法測(cè)試。
在測(cè)試導(dǎo)熱系數(shù)方法中，前面我們介紹了穩(wěn)態(tài)法，這種方法雖然測(cè)試精度高，但存在測(cè)試耗時(shí)長(zhǎng)，量程低（小于20W/mK）等缺點(diǎn)，對(duì)樣品要求形狀高，不規(guī)則、各向異性和粉末等樣品也無法測(cè)試。
在測(cè)試導(dǎo)熱系數(shù)方法中，前面我們介紹了穩(wěn)態(tài)法，這種方法雖然測(cè)試精度高，但存在測(cè)試耗時(shí)長(zhǎng)，量程低（小于20W/mK）等缺點(diǎn)，對(duì)樣品要求形狀高，不規(guī)則、各向異性和粉末等樣品也無法測(cè)試。
